常見國標(biāo)GB/T 2423.3-2016介紹
作者:林頻儀器發(fā)布時間:2023-02-09 15:19
常見國標(biāo)GB/T 2423.3-2016前言介紹
GB/T 2423.3—2006為GB/T 2423(電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的第3部分。
本部分等同采用IEC 60068—2—78:2001(環(huán)境試驗(yàn) 第2—78部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)Cab;恒定濕熱試驗(yàn))(英文版)。
本部分刪除了IEC:60068—2—78:2001中的“前言”的內(nèi)容。
本部分代替GB/T 2423.3—1993(電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法)及GB/T 2423.9—2001(電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱》。主要變動如下:
1)本部分將原標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.3—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法)及GB/T2423.9—20014電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱這兩項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)合并為一標(biāo)準(zhǔn),即GB/T 2423.3—2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn));
2)本部分在對試驗(yàn)箱的要求中明確規(guī)定短期的溫度波動要保持在±0.5K范圍內(nèi)以保持所要求的濕度條件:
3)本部分對試驗(yàn)箱的濕度容差統(tǒng)一規(guī)定為±3%;
4)本部分比原來的兩個標(biāo)準(zhǔn)增加了推薦的持續(xù)時間;
5)本部分增加了附錄A。
本部分的附錄A為資料性附錄。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。
本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。本部分起草單位:廣州電器科學(xué)研究院。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB/T 2423.3—1981、GB/T 2423.3—1993,GB/T 2423.9-1989、GB/T 2423.9-2001。
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